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关于晶体管输出光耦与可控硅输出光耦的精密测试操作方法

作者: 发布时间:2018/8/6 来源:光耦网 浏览量:367 相关关键词: 光耦 晶体管 可控硅 方法

注:此版包含晶体管输出,达灵顿输出,可控硅输出,IGBT驱动光耦,高速光耦,施密特输出测试方法以及测试结果判定标准。

设备简介

精密测试操作方法 (1).jpg

精密测试操作方法 (2).jpg

精密测试操作方法 (3).jpg

精密测试操作方法 (4).jpg


使用万用表需要注意:

测电流红色表笔就要插入mA孔

测电压红色表笔就要插入VΩHz孔

黑笔一直插COM孔

设备:

测试座(用以搭载被测材料)

信号发生器(用以提供所需的电压与电流信号)

万用表(用以检测相关参数)

测试线若干(连接上述设备)

测试相关步骤:

1.确定被测光耦类型

2.测试线连接

3.参数设定

4.进行测试

5.判定材料是否OK

测试常识:给电流测电压,给电压测电流



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