1Mbps：6N136、HCPL4503达灵顿：6N138、6N139
1.确定光耦类型
此系列依然属于晶体管输出系列，只是它把受光元件与三极管分立开来，因此需要为其提供一个VCC偏置电压。
![1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (1).jpg](/r01/A8B98/p03/image/20180813/6366975191946429428502032.jpg "1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (1).jpg")
![1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (2).jpg](/r01/A8B98/p03/image/20180813/6366975192273187231671717.jpg "1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (2).jpg")
2.测试线连接
因为依然属于晶体管输出系列，故输出电流受输入电流控制，此处先介绍测试CTR的方法，其测试原理图如下。如果想测它开启的输出的低电平VOL可参照后续介绍的6N137测试方法。
连线原理图：
![1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (3).jpg](/r01/A8B98/p03/image/20180813/6366975204248678544081502.jpg "1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (3).jpg")
连线实物图：
![1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (4).jpg](/r01/A8B98/p03/image/20180813/6366975206726703211778728.jpg "1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (4).jpg")
![1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (5).png](/r01/A8B98/p03/image/20180813/6366975207668013021171275.png "1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (5).png")
3.参数设定
![1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (6).png](/r01/A8B98/p03/image/20180813/6366975209393304488701303.png "1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (6).png")
4.进行测试
放入材料，反向放置，小圆孔朝上
5.判定标准
| 型号 | CTR最小值 | CTR最大值 | IC允许最小值（显示） | IC允许最大值 |
| 6N135 | 7 | 50 | 0.7 | 5 |
| 6N136 | 19 | 50 | 1.9 | 5 |
| HCPL4503 | 19 | 50 | 1.9 | 5 |
| 6N138 | 300 | 无 | 6 | 无上限 |
| 6N139 | 500 | 无 | 10 | 无上限 |
备注：此表后面IC判定标准依照测试条件变化而变化，具体算法为IC=CTR*IF/100%
测试实例：
此为6N136的测试实例，测试条件输入端IF=10mA，输出端VCC=VO=5V，由下图我们可以看出，IC=2.68mA，在1.9mA-5mA的范围内，故判断为OK。
![1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (7).jpg](/r01/A8B98/p03/image/20180813/6366975266430199932748529.jpg "1M高速光耦测试[高速达灵顿系列] (7).jpg")
行业资讯
